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发表于 2008-9-16 02:26
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首先断开行激励信号,在行B+串入2MA档表,未见漏电。然后摘下行B,用电容档测其初级电感,为并联同向双绕组,初端引脚分开,中心抽头为末端;单个绕组和并联时电感量相同。
将其中一个绕组接入电路时,行B+电流增大约一倍,行B+电压降低约一半;接入另一绕组,立即听到高压放电的丝丝声,是好的。将行场偏转线圈作为电感代替行B初级线圈,行B+也正常。
切割铜泊线,悬浮坏绕组初端引脚,装回行B开机有图有声了,烤机小数时未见异常。
小结:
1 遇到行B+电压降低约一半或行B+电流增大约一倍时,短接行推B初级行B+能恢复,说明行管受控,如无漏电,即可判断行初级线圈有短路。但如果一看到这样的情况就判断,显然有点过分。
2 用行场偏转线圈作为电感代替行初级线圈是为了验证结果,其实倒是一种简易的行场偏转线圈测试方法,不妨一试。
3 短路的行B初级线圈感抗很小,在行开关电路中相当于一截导线。而常见机型都没有加行管保护,也许维修设计中没有考虑。
4 切割走线,等于修理行B。如此巧合,的确有趣。 |
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